智博通科技有限公司(圖)-菲尼克斯測厚儀-測厚儀
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涂層測厚儀
引起涂鍍層測厚儀測量誤差大的原因我們在以前的文章中已經(jīng)介紹很清楚了，這里我們在簡單介紹一下引起測量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾探頭的放置方法等，新來的朋友可以參考儀器的文章熟悉一下我們就不一一做介紹了。
引起涂鍍層測厚儀測量誤差大的原因我們在以前的文章中已經(jīng)介紹很清楚了，這里我們在簡單介紹一下引起測量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾探頭的放置方法等，電解式測厚儀，新來的朋友可以參考儀器的文章熟悉一下我們就不一一做介紹了。
MC-3000B涂層測厚儀
MC-3000B一體式涂層測厚儀，磁性覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專業(yè)必備的儀器。本儀器符合以下標準： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
OXFORD-760臺式測厚儀
OXFORD-760可用于測量銅和孔內(nèi)鍍銅的厚度，獨特的設(shè)計探頭使測量準確，不受板內(nèi)層的影響。
OXFORD-760臺式測厚儀銅和孔內(nèi)鍍銅的厚度，獨特的設(shè)計探頭使測量準確，測厚儀，不受板內(nèi)層的影響。
OXFORD-760臺式測厚儀銅和孔內(nèi)鍍銅的厚度，獨特的設(shè)計探頭使測量準確，不受板內(nèi)層的影響。
測厚儀-智博通科技有限公司-濕膜片測厚儀由武漢智博通科技有限公司提供。測厚儀-智博通科技有限公司-濕膜片測厚儀是武漢智博通科技有限公司（m.zgyldd.com）今年全新升級推出的，以上圖片僅供參考，請您撥打本頁面或圖片上的聯(lián)系電話，索取聯(lián)系人：馬先生。同時本公司（www.zdszby.com）還是從事自動三坐標儀，自動三坐標儀測量，自動三坐標儀測量儀的廠家，歡迎來電咨詢。
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